Oberflächencharakterisierung von Fasern und Interphasen mittels SFM-Techniken
Autor*innen: | Eckhard Schulz |
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Koautor*innen: | Heinz Sturm, Martin Munz |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1997 |
Veranstaltung: | Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI |
Veranstaltungsort: | Tübingen, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1997-10-09 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |