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Oberflächencharakterisierung von Fasern und Interphasen mittels SFM-Techniken

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Autor*innen:Eckhard Schulz
Koautor*innen:Heinz Sturm, Martin Munz
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI
Jahr der Erstveröffentlichung:1997
Veranstaltung:Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI
Veranstaltungsort:Tübingen, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1997-10-09
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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