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Methods for simultaneous measurements of topography and local electric properties using SFM

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Metadaten
Autor*innen:Eckhard Schulz
Koautor*innen:Heinz Sturm, Wolfgang Stark, V. Bovtun
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Dreiländertagung: Elektronenmikroskopie
Jahr der Erstveröffentlichung:1997
Veranstaltung:Dreiländertagung: Elektronenmikroskopie
Veranstaltungsort:Regensburg, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1997-09-08
Enddatum der Veranstaltung:1997-09-12
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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