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Analysis of highly resolved x-ray photoelectron Cr 2p spectra obtained with a Cr2O3 powder sample prepared with adhesive tape

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Autor*innen:Ercan Ünveren, E. Kemnitz, S. Hutton, Andreas Lippitz, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Surface and interface analysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Verlag:Wiley
Verlagsort:Chichester
Jahrgang/Band:36
Erste Seite:92
Letzte Seite:95
Freie Schlagwörter:Cr2O3 powder; High-resolution XPS; Multiplet splitting
ISSN:0142-2421
ISSN:1096-9918
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:25.03.2004
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