Reibungsmessungen im Mikro- und Nanobereich
Autor*innen: | Erich Santner, Dirk SpaltmannORCiD |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
Herausgeber (Institution): | Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik |
Verlag: | VDI-Verl. |
Verlagsort: | Düsseldorf |
Ausgabe/Heft: | 1669 |
Erste Seite: | 191 |
Letzte Seite: | 200 |
Veranstaltung: | Tagung 2003 |
Veranstaltungsort: | Stuttgart, Deutschland |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-02-12 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2003-02-13 |
ISSN: | 0083-5560 |
ISBN: | 3-18-091669-9 |
Bemerkung: | Serientitel: VDI-Berichte – Series title: VDI-Berichte |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |