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Reibungsmessungen im Mikro- und Nanobereich

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Autor*innen:Erich Santner, Dirk SpaltmannORCiD
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Herausgeber (Institution):Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Verlag:VDI-Verl.
Verlagsort:Düsseldorf
Ausgabe/Heft:1669
Erste Seite:191
Letzte Seite:200
Veranstaltung:Tagung 2003
Veranstaltungsort:Stuttgart, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2003-02-12
Enddatum der Veranstaltung:2003-02-13
ISSN:0083-5560
ISBN:3-18-091669-9
Bemerkung:
Serientitel: VDI-Berichte – Series title: VDI-Berichte
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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