• Treffer 2 von 2
Zurück zur Trefferliste

A VUV-XUV ellipsometric setup at BESSY II: optical characterization of nitride semiconductors

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:C. Cobet
Koautor*innen:Steffen Baudach, Uwe Beck, S. Brunn, B. Gruska, N. Esser, W. Richter
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE 3)
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Veranstaltung:International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE 3)
Veranstaltungsort:Vienna, Austria
Beginndatum der Veranstaltung:2003-07-07
Enddatum der Veranstaltung:2003-07-11
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.