MetadatenAutor*innen: | Burkhard Peplinski, Dietrich Schultze, Klaus-Jürgen Wenzel |
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Persönliche Herausgeber*innen: | R. Delhez |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of the seventh European powder diffraction conference |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2001 |
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Herausgeber (Institution): | EPDIC |
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Verlag: | Trans Tech Publications |
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Verlagsort: | Uetikon-Zürich |
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Ausgabe/Heft: | 378-381/1 |
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Erste Seite: | 124 |
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Letzte Seite: | 129 |
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Freie Schlagwörter: | Interlaboratory comparison; Quality assurance; Quantitative phase analysis; Reference materials; Rietveld analysis; Round Robin; Silicon nitride; Statistical tests |
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Veranstaltung: | 7th European Powder Diffraction Conference |
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Veranstaltungsort: | Barcelona, Spain |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2000-05-20 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2000-05-23 |
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ISSN: | 0255-5476 |
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ISBN: | 0-87849-886-9 |
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Bemerkung: | Serientitel: Materials science forum – Series title: Materials science forum |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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