Software- and instrument development for characterization of nano-(C)RMs
- This poster deals with improvements and characteriztion of small-angle scattering limitations, by looking at the trifecta of Data collection and uncertainty propagation, data analysis methodologies, and real-world tests. It is found that - with appropriate care and instrumentation - accuracies of 1% on mean nanomaterial sizes, and 10% on the size distribution width as well as the volume fraction can be achieved.
Autor*innen: | Brian Richard PauwORCiD |
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Koautor*innen: | Ingo BreßlerORCiD, T. Snow, Andreas ThünemannORCiD |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.5 Synthese und Streuverfahren nanostrukturierter Materialien | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Data analysis; Data correction; Instrumentation; MAUS; Methodology; Small-angle scattering |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | BAM-PTB Workshop on Reference Nanomaterials |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 14.05.2018 |
Enddatum der Veranstaltung: | 15.05.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 01.10.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |