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Influence of Unsharpness on Crack Length Evaluation with Computerized Tomography Methods

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Autor*innen:Uwe Ewert, Bernhard Redmer, A. Likhachov, V. Pickalov
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of 2nd World Congress on Industrial Process Tomography
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Verlag:Virtual Centre for Industrial Process Tomography
Verlagsort:[Manchester]
Jahrgang/Band:2
Ausgabe/Heft:Appendix 1
Erste Seite:711
Letzte Seite:718
Freie Schlagwörter:Crack inspection; Crack overshoot; X-ray-tomography
Veranstaltung:2nd World Congress on Industrial Process Tomography
Veranstaltungsort:Hannover, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2001-08-29
Enddatum der Veranstaltung:2001-08-31
ISBN:0-85316-224-7
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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