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Synchrotron-Refraction-Computed-Tomography for NDT and characterisation of lightweight composite materials

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Axel Lange, Marco Harwardt, Manfred P. Hentschel, Bernhard Illerhaus, Jürgen Goebbels, J. Bamberg, F. Heutling
Persönliche Herausgeber*innen: Danny Van Hemelrijck, Igor Solodov, Athanasios Anastasopoulos, Gerhard Busse
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Emerging Technologies in Non-Destructive Testing
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Verlag:Taylor & Francis
Verlagsort:London, UK
Erste Seite:217
Letzte Seite:221
Freie Schlagwörter:Computed Tomography; NDE; Refraction; Ti-MMC
Veranstaltung:4th International Conference of Emerging Technologies in Non-Destructive Testing (ETNDT 4)
Veranstaltungsort:Stuttgart, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2007-04-02
Enddatum der Veranstaltung:2007-04-04
ISBN:978-0-415-46476-5
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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