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Synchrotron-Refraktions-Computer-Tomographie - EIne neue Methode zur Erkennung von Grenzflächen

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Axel Lange, Michael Harwardt, Manfred P. Hentschel
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Eigenverlag BAM
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):DGZfP-Jahrestagung 2009
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.v. (DGZfP)
Ausgabe/Heft:DGZfP-BB 115 (Di.1.A.1)
Erste Seite:1
Letzte Seite:11
Freie Schlagwörter:Diffraktion; Kleinwinkelstreuung; Materialcharakterisierung; Refraktion; Synchrotronstrahlung; Zerstörungsfrei
Veranstaltung:DGZfP-Jahrestagung 2009
Veranstaltungsort:Münster, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2009-05-18
Enddatum der Veranstaltung:2009-05-20
ISBN:978-3-940283-16-0
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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