White beam synchrotron topography using a high resolution digital X-ray imaging detector
- X-ray topography is a well known imaging technique to characterise strain and extended defects in single crystals. Topographs are typically collected on X-ray films. On the one hand such photographic films show a limited dynamic range and the production of films will be discontinued step by step in the near future. On the other hand new imaging detectors improved for X-ray tomography become more and more attractive even for topography because of increasing resolution, dynamic range, speed and active area. In this paper we report about the upgrade of the TOPOTOMO beamline at the synchrotron light source ANKA, Research Centre Karlsruhe, with a high resolution digital camera for the topography use.
Autor*innen: | A.N. Danilewsky, A. Rack, J. Wittge, T. Weitkamp, R. Simon, Heinrich Riesemeier, T. Baumbach |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Nuclear instruments and methods in physics research B |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2008 |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | Amsterdam |
Jahrgang/Band: | 266 |
Ausgabe/Heft: | 9 |
Erste Seite: | 2035 |
Letzte Seite: | 2040 |
Freie Schlagwörter: | Digital X-ray detector; Digital radiography; Scintillator; Synchrotron instrumentation; Synchrotron radiation; White beam topography |
DOI: | 10.1016/j.nimb.2008.02.065 |
ISSN: | 0168-583X |
ISSN: | 1872-9584 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 15.12.2008 |