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NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography

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Autor*innen:Manfred P. Hentschel, Karl-Wolfram Harbich, Bernd R. MüllerORCiD, Axel Lange, Jörg Schors, Oliver Wald
Persönliche Herausgeber*innen: Gerhard Busse, Danny Van Hemelrijck, Igor Solodov, Athanasios Anastasopoulos
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Emerging Technologies in Non-Destructive Testing / 4th International Conference (ETNDT 4), April 2-4, 2007, Stuttgart (Proceedings)
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Verlag:Taylor & Francis
Verlagsort:London, UK
Erste Seite:15
Letzte Seite:22
Freie Schlagwörter:Ceramics; Composite damaging; Computed topography; Foams; Nondestructive testing; Structure property relations; Synchrotron refraction computed tomography; X-ray scattering; X-ray topography
Veranstaltung:4th International Conference of Emerging Technologies in Non-Destructive Testing (ETNDT 4)
Veranstaltungsort:Stuttgart, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2007-04-02
Enddatum der Veranstaltung:2007-04-04
ISBN:978-0-415-46476-5
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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