MetadatenAutor*innen: | Manfred P. Hentschel, Axel Lange, Jörg Schors, Oliver Wald |
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Persönliche Herausgeber*innen: | R. Geer |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Testing, reliability, and application of micro- and nano-material systems III |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Verlag: | SPIE |
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Verlagsort: | Bellingham |
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Ausgabe/Heft: | 5766 |
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Erste Seite: | 9 |
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Letzte Seite: | 14 |
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Freie Schlagwörter: | Ceramics; Composites; Compounds; Molecular probe; Non-metallics; Polymers; Texture; X-ray diffraction; X-ray microscopy; X-ray topography |
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Veranstaltung: | Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II |
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Veranstaltungsort: | San Diego, CA, USA |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2005-03-08 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2005-03-10 |
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ISBN: | 0-8194-5747-7 |
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Bemerkung: | Serientitel: SPIE proceedings series – Series title: SPIE proceedings series |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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