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X-Ray Diffraction Topography images materials by molecular probe

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Metadaten
Autor*innen:Manfred P. Hentschel, Axel Lange, Jörg Schors, Oliver Wald
Persönliche Herausgeber*innen:R. Geer
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Testing, reliability, and application of micro- and nano-material systems III
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Verlag:SPIE
Verlagsort:Bellingham
Ausgabe/Heft:5766
Erste Seite:9
Letzte Seite:14
Freie Schlagwörter:Ceramics; Composites; Compounds; Molecular probe; Non-metallics; Polymers; Texture; X-ray diffraction; X-ray microscopy; X-ray topography
Veranstaltung:Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II
Veranstaltungsort:San Diego, CA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2005-03-08
Enddatum der Veranstaltung:2005-03-10
ISBN:0-8194-5747-7
Bemerkung:
Serientitel: SPIE proceedings series – Series title: SPIE proceedings series
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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