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Modelling of reflectivity patterns from artificial defects

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Autor*innen:Anton Erhard
Koautor*innen:Rainer Boehm
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):ASNT Research Symposium
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Veranstaltung:ASNT Research Symposium
Veranstaltungsort:Orlando, FL, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2007-03-29
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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