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Modelling of reflectivity patterns from artificial defects

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Autor*innen:Rainer Boehm, Anton Erhard
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):9th European Conference on NDT
Jahr der Erstveröffentlichung:2006
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung
Verlag:European Federation for Non-Destructive Testing
Verlagsort:Berlin
Erste Seite:1
Letzte Seite:10(?)
Freie Schlagwörter:Focussing; Imaging; NDT; Reflectivity; SAFT; Simulation; Ultrasound
Veranstaltung:9th European Conference on NDT
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2006-09-25
Enddatum der Veranstaltung:2006-09-29
ISBN:3-931381-86-2
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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