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SEM investigation of interfacial dislocations in nickel-base superalloys

  • A new technique for investigation of interfacial dislocations in nickel-base superalloys by scanning electron microscopy is presented. At high temperatures the pressure of interfacial dislocations against the γ/γ'-interface causes grooves. This 'fingerprint of the dislocation network' is visualized by deep selective etching, which removes the γ'-phase down to the γ/γ'-interface. Compared with transmission electron microscopy, the proposed method has important advantages: observation of large sample areas, no superposition of dislocations lying in different specimen depths, possibility of three-dimensional view of dislocation configurations, information about the dislocation mobility, reduced time for preparation and visualization. The method can be applied for multiphase materials where the interface is grooved by interfacial dislocations.

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Metadaten
Autor*innen:Alexander Epishin, T. Link, Gert Nolze
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of microscopy
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Herausgeber (Institution):Royal Microscopical Society
Verlag:Blackwell
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:228
Ausgabe/Heft:2
Erste Seite:110
Letzte Seite:117
Freie Schlagwörter:Dislocation structure; Interfaces; Nickel alloys; Scanning electron microscopy
ISSN:0022-2720
ISSN:1365-2818
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:25.10.2007
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