SEM investigation of interfacial dislocations in nickel-base superalloys
- A new technique for investigation of interfacial dislocations in nickel-base superalloys by scanning electron microscopy is presented. At high temperatures the pressure of interfacial dislocations against the γ/γ'-interface causes grooves. This 'fingerprint of the dislocation network' is visualized by deep selective etching, which removes the γ'-phase down to the γ/γ'-interface. Compared with transmission electron microscopy, the proposed method has important advantages: observation of large sample areas, no superposition of dislocations lying in different specimen depths, possibility of three-dimensional view of dislocation configurations, information about the dislocation mobility, reduced time for preparation and visualization. The method can be applied for multiphase materials where the interface is grooved by interfacial dislocations.
MetadatenAutor*innen: | Alexander Epishin, T. Link, Gert Nolze |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of microscopy |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2007 |
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Herausgeber (Institution): | Royal Microscopical Society |
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Verlag: | Blackwell |
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Verlagsort: | London |
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Jahrgang/Band: | 228 |
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Ausgabe/Heft: | 2 |
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Erste Seite: | 110 |
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Letzte Seite: | 117 |
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Freie Schlagwörter: | Dislocation structure; Interfaces; Nickel alloys; Scanning electron microscopy |
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ISSN: | 0022-2720 |
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ISSN: | 1365-2818 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 25.10.2007 |
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