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Recent developments of photon counting and energy discriminating detectors for radiographic testing

  • The direct detection of X-ray photons into electrical signals is enabled by usage of highly absorbing photo conducting materials (e.g. CdTe) as detection layer of an underlying CMOS semiconductor X-ray image detector. If the read-out speed is high enough (ca. 50 – 100 ns dead time) single X-ray photons can be counted and their energy measured. Read-out noise and dark image correction can be diminished. By setting energy thresholds, selected energy ranges of the X-ray spectrum can be detected or suppressed. This allows material discrimination or reduction of scattered radiation, which results in an enhanced contrast sensitivity.

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  • PCD_UweZ_Xian2017.pdf
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Autor*innen:Uwe ZscherpelORCiD
Koautor*innen:David Schumacher, Uwe Ewert
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Direct detection; Dual energy imaging; Energy discrimination; Industrial X-ray imaging; Photon counting
Veranstaltung:2017 Far East Forum on Nondestructive Evaluation & Testing
Veranstaltungsort:Xi`an, China
Beginndatum der Veranstaltung:21.06.2017
Enddatum der Veranstaltung:24.06.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:27.07.2017
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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