• Treffer 4 von 34
Zurück zur Trefferliste

Catastrophic optical damage at front and rear facets of diode lasers

  • Single-pulse tests of the catastrophic optical damage (COD) are performed for three batches of diode lasers with different gain-regions. The tests involve in situ inspection of front, rear, and side of the devices by a thermocamera. Devices with an Al-containing gain-region show COD at the front facet, as expected for strong facet heating via surface recombination and reabsorption of laser light. In contrast, Al-free devices with low surface recombination rates tend to fail at the rear facet, pointing to a different heating scenario. The high carrier density at the rear facet favors heating and COD via Auger recombination processes.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:M. Hempel, J.W. Tomm, Mathias ZieglerORCiD, T. Elsaesser, N. Michel, M. Krakowski
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Applied physics letters
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:American Institute of Physics
Verlagsort:Melville, NY
Jahrgang/Band:97
Ausgabe/Heft:23
Erste Seite:231101-1 - 231101-3
Freie Schlagwörter:Auger effect; Carrier density; Catastrophic optical damage; Destructive testing; Heating; High power diode lasers; Laser beam effects; Non-destructive testing; Optical testing; Semiconductor lasers; Surface recombination; Thermography
DOI:10.1063/1.3524235
ISSN:0003-6951
ISSN:1077-3118
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:16.12.2010
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.