Mechanisms and fast kinetics of the catastrophic optical damage (COD) in GaAs-based diode lasers
- COD diagram determined for a batch of broad-area AlGaAs diode lasers. The time to COD within a single current pulse is plotted versus the actual average optical power in the moment when the COD takes place. Full circles stand for clearly identified COD events (right ordinate), whereas open circles (left ordinate) represent the pulse duration in experiments, where no COD has been detected. A borderline (gray) exists between two regions, i. e., parameter sets, of presence (orange) and absence of COD (blue). This borderline is somewhat blurred because of the randomness in filamentation of the laser nearfield and scatter in properties of the involved individual devices.
Autor*innen: | J.W. Tomm, Mathias ZieglerORCiD, M. Hempel, T. Elsaesser |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Laser & photonics reviews |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2011 |
Verlag: | Wiley-VCH |
Verlagsort: | Weinheim |
Jahrgang/Band: | 5 |
Ausgabe/Heft: | 3 |
Erste Seite: | 422 |
Letzte Seite: | 441 |
Freie Schlagwörter: | Catastrophic optical damage; Destructive testing; High-power diode lasers; Non-destructive testing; Semiconductor laser; Thermography |
DOI: | 10.1002/lpor.201000023 |
ISSN: | 1863-8880 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 09.05.2011 |