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Time-resolved analysis of catastrophic optical damage in 975 nm emitting diode lasers

  • Catastrophic optical damage (COD) is analyzed during single current pulse excitation of 975 nm emitting diode lasers. Power transients and thermal images are monitored during each pulse. The COD process is unambiguously related to the occurrence of a “thermal flash” of Planck’s radiation. We observe COD to ignite multiple times in subsequent pulses. Thermography allows for tracing a spatial motion of the COD site on the front facet of the devices. The time constant of power decay after the onset of COD has values from 400 to 2000 ns, i.e., an order of magnitude longer than observed for shorter-wavelength devices.

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Autor*innen:M. Hempel, Mathias ZieglerORCiD, J.W. Tomm, T. Elsaesser, N. Michel, M. Krakowski
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Applied physics letters
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:American Institute of Physics
Verlagsort:Melville, NY
Jahrgang/Band:96
Ausgabe/Heft:251105
Erste Seite:1
Letzte Seite:3
Freie Schlagwörter:Catastrophic optical damage; High-power diode lasers; Semiconductor laser; Thermography
DOI:10.1063/1.3456388
ISSN:0003-6951
ISSN:1077-3118
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:15.07.2010
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