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Biegeversuche an SI- und SIO2-Nanodrähten

  • 3-Punkt Biegeversuche an Si-basierten Mikro/Nanodrähten wurden im REM mittels Mikromanipulator mit Kraftmessspitze durchgeführt. Die Kraft wurde nach Kalibrierung der Messspitze direkt abgegriffen. Die Auslenkung des Drahtes wurde durch eine Videosequenz im REM aufgenommen und anschließend über die Bildkorrelation ausgewertet. Kraft-Weg-Kurven konnten erstellt werden, um die elastischen Eigenschaften der Drähte zu ermitteln. Die Daten wurden mit FEM-Simulationen und Literatur verglichen. Bruchmechanische Eigenschaften wurden ebenfalls in guter Übereinstimmung mit anderen Verfahren quantifiziert.

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Autor*innen:Nicole Wollschläger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Bildkorrelation; Mechanisches Testen; Rasterelektronenmikroskop; Silicium Nanodrähte
Veranstaltung:4. Treffen AG "In-situ Prüfung im REM"
Veranstaltungsort:Kaiserslautern, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:22.03.2016
Enddatum der Veranstaltung:23.03.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.11.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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