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A new fundamental parameter based quantification procedure for micro-XRF data

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Autor*innen:Timo Wolff
Koautor*innen:Oliver Hahn, Thomas Kannengießer, W. Malzer, I. Mantouvalou
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS)
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Veranstaltung:European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS)
Veranstaltungsort:Figueira da Foz, Portugal
Beginndatum der Veranstaltung:2010-06-20
Enddatum der Veranstaltung:2010-06-25
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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