MetadatenAutor*innen: | Thomas Wirth, Uwe Beck, V. Hoffmann, R. Kurt, K. Kämmer, R. Thielsch |
---|
Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
---|
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
---|
Sprache: | Englisch |
---|
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied spectroscopy |
---|
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
---|
Verlag: | Society for Applied Spectroscopy |
---|
Verlagsort: | Frederick, Md. |
---|
Jahrgang/Band: | 53 |
---|
Ausgabe/Heft: | 8 |
---|
Erste Seite: | 987 |
---|
Letzte Seite: | 990 |
---|
Freie Schlagwörter: | Depth profile; GD-OES; Glow discharge optical emission spectroscopy; Interference; Layer thickness; Refractive index; Transparent layers |
---|
ISSN: | 0003-7028 |
---|
ISSN: | 1943-3530 |
---|
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
---|
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
---|
Referierte Publikation: | Ja |
---|
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 19.07.2000 |
---|