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A reference material for calibration and testing of instruments with nanometric lateral resolution

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Autor*innen:Mathias Senoner, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):SIMS Europe 2002
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Erste Seite:58
Veranstaltung:SIMS Europe 2002 ; 3rd European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry
Veranstaltungsort:Münster, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2002-09-15
Enddatum der Veranstaltung:2002-09-17
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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