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TOF-SIMS investigation of coated glass beads

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Autor*innen:Thomas Wirth
Koautor*innen:Christoph Recknagel
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Veranstaltung:18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Veranstaltungsort:Riva del Garda, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2011-09-18
Enddatum der Veranstaltung:2011-09-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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