A reference material for calibration and testing of instruments with nanometric lateral resolution
Autor*innen: | Mathias Senoner, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | SIMS Europe 2002 |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2002 |
Erste Seite: | 58 |
Veranstaltung: | SIMS Europe 2002 ; 3rd European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry |
Veranstaltungsort: | Münster, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2002-09-15 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2002-09-17 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |