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Combination of electron probe microanalysis and X-ray fluorescence analysis in a scanning electron microscope

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD, A. Bjeoumikhov, F. Eggert, R. Wedell
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings, Port Elizabeth conference
Jahr der Erstveröffentlichung:2006
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of Southern Africa
Verlagsort:Onderstepoort
Jahrgang/Band:36
Erste Seite:26
Freie Schlagwörter:Detection limits; EPMA; myXRF at SEM
Veranstaltung:45th Annual Port Elizabeth Conference
Veranstaltungsort:Port Elizabeth, South Africa
Beginndatum der Veranstaltung:2006-11-29
Enddatum der Veranstaltung:2006-12-01
ISBN:0-620-37294-X
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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