MetadatenAutor*innen: | Mathias Senoner, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD, M. Escher, N. Weber, D. Funnenmann, B. Krömker |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of surface analysis |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Herausgeber (Institution): | Hyomen Bunseki Kenkyukai |
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Verlagsort: | Tsukuba |
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Jahrgang/Band: | 12 |
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Ausgabe/Heft: | 2 |
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Erste Seite: | 78 |
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Letzte Seite: | 82 |
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Freie Schlagwörter: | ESCA; Nanometrologie; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; SIMS; XPS; Zertifiziertes Referenzmaterial |
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Veranstaltung: | International Symposium on Practical Surface Analysis |
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Veranstaltungsort: | Jeju, Republic of Corea |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-10-04 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-10-06 |
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ISSN: | 1341-1756 |
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ISSN: | 1347-8400 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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