Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 3 von 3
Zurück zur Trefferliste

Röntgentopografische Verfahren mit Klein- und Weitwinkelstreuung - Ein Überblick

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Jörg Schors, Michael Harwardt, Andreas KupschORCiD, Axel Lange, Oliver Wald
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Eigenverlag BAM
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):MP materials testing
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Herausgeber (Institution):Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung
Verlag:Hanser
Verlagsort:München
Jahrgang/Band:50
Ausgabe/Heft:10
Erste Seite:595
Letzte Seite:601
Freie Schlagwörter:Computertomographie; Keramik; Komposite; Materialcharakterisierung; Mikrorisse; Röntgenstreuung
ISSN:0025-5300
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:13.11.2008
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.