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Transmission electron microscopy study of rapid thermally annealed Pd/Ge contacts on IN0.53Ga0.47As

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Autor*innen:P. Ressel, Werner ÖsterleORCiD, Ingrid Urban, Ilona Dörfel, A. Klein, K. Vogel, H. Kräutle
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of applied physics
Jahr der Erstveröffentlichung:1996
Verlag:American Institute of Physics
Verlagsort:Melville, NY
Jahrgang/Band:88
Erste Seite:3910
Letzte Seite:3914
ISSN:0021-8979
ISSN:1089-7550
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:19.05.2003
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