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Preparation, transmission electron microscopy, and microanalytical investigations of metal-III-V semiconductor interfaces

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Autor*innen:A. Klein, Ingrid Urban, P. Ressel, E. Nebauer, U. Merkel, Werner ÖsterleORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials characterization
Jahr der Erstveröffentlichung:1996
Herausgeber (Institution):International Metallographic Society
Verlag:Elsevier
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:37
Erste Seite:143
Letzte Seite:151
ISSN:1044-5803
ISSN:1873-4189
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.06.2003
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