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Metrology for spatially resolved chemical analysis at the micro and nanometre scales Surface Analysis Working Group (SAWG) - Report for 16th Meeting (2017/18)

  • Following the 2017 meeting, progress with the Key Comparison CCQM-K153 related to the BET specific surface lead by UNIIM and the Pilot Study P-190 “Thickness Measurement of nm HfO2 Films” lead by KRISS will be discussed. The 16th meeting of SAWG will focus on •survey on CMC claims submitted with reference to K-129 and K-136. •the overall and SAWG specific aspects of the CCQM Strategy process, •a consideration of comparisons on convention methods as recommended by the CCQM Plenary Meeting 2017, •the 2019 CCQM Workshop and paper(s) for Metrologia’s Special Issue, •discussion of future comparisons.

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  • CCQM18-38-SAWG_2018_for_plenary-v2.pdf
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Autor*innen:Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Inter-laboratory comparisons; Metrology; Surface chemical analysis
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:24th meeting of the CCQM 2018
Veranstaltungsort:Paris, France
Beginndatum der Veranstaltung:19.04.2018
Enddatum der Veranstaltung:20.04.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:24.05.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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