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Principal component analysis (PCA)-assisted time-of-flight secondary-ion mass spectrometry (ToF-SIMS): a versatile method for the investigation of self-assembled monolayers and multilayers as precursors for the bottom-up approach of nanoscaled devices

  • The production of high-quality self-assembled monolayers (SAMs) followed by layer-by-layer (LbL) self-assembly of macrocycles is essential for nanotechnology applications based on functional surface films. To help interpret the large amount of data generated by a standard ToF-SIMS measurement, principal component analysis (PCA) was used. For two examples, the advantages of a combination of ToF-SIMS and PCA for quality control and for the optimization of layer-by-layer self-assembly are shown. The first example investigates how different cleaning methods influence the quality of SAM template formation. The second example focuses on the LbL self-assembly of macrocycles and the corresponding stepwise surface modification.

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Metadaten
Autoren/innen:Markus Holzweber, T. Heinrich, V. Kunz, S. Richter, C.H.-H. Traulsen, C.A. Schalley, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Analytical chemistry
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Organisationseinheit der BAM:6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
Verlag:American Chemical Society
Verlagsort:Washington, DC
Jahrgang/Band:86
Ausgabe/Heft:12
Erste Seite:5740
Letzte Seite:5748
Freie Schlagwörter:Layer by layer; Principal component analysis; Self assembled monolayer; ToF-SIMS
DOI:https://doi.org/10.1021/ac500059a
ISSN:0003-2700
ISSN:1520-6882
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:03.07.2014