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Beitrag der LA-ICP-MS zur Charakterisierung von Kupfer-Referenzmaterialien

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Autor*innen:Heike Traub
Koautor*innen:Michael Czerwensky, Ralf Matschat, Heinrich Kipphardt, Ulrich Panne
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Veranstaltung:21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse
Veranstaltungsort:Dresden, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2008-09-17
Enddatum der Veranstaltung:2008-09-19
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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