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Determination of the effective EDS detector area using experimental and theoretical X-ray emission yields

  • An energy dispersive X-ray spectrometer operating with a semiconductor detector should be specified in compliance with the ISO standard 15632 [1]. Requirements for specification are: a) a general description of the spectrometer to evaluate its performance, b) the energy resolution with corresponding dead time, c) the P/B ratio in the Fe55 spectrum and, finally, d) the L/K intensity Ratio in a Ni or Cu spectrum to estimate spectrometer efficiency at low energies. Items b) to d) can be easily checked by the user. Related procedures are recommended in the annexes of the standard.

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Metadaten
Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD, R. Terborg, M. Procop
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:21
Ausgabe/Heft:Suppl. 3
Erste Seite:Paper 0739, 1481
Letzte Seite:1482
Freie Schlagwörter:EDS; Effective solid angle; X-rays
DOI:10.1017/S1431927615008181
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.10.2015
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