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Methods for Simultaneous Measurements of Topography and Local Electrical Properties: Conductivity, Capacity, Surface Charge and Inverse Piezoelectricity

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Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Koautor*innen:Markus Geuss
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Veranstaltung:Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal
Veranstaltungsort:Wuppertal, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1999-03-11
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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