Messung lokaler elektrischer Eigenschaften mit dem AFM: Der Leitfähigkeitskontrast
Autor*innen: | Heinz SturmORCiD |
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Koautor*innen: | Eckhard Schulz |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Festvortragsreihe "Fortschritte in der Rastersondenmikroskopie" anläßlich der Eremittierung von Prof. Dr. Lacmann |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1995 |
Veranstaltung: | Festvortragsreihe "Fortschritte in der Rastersondenmikroskopie" anläßlich der Eremittierung von Prof. Dr. Lacmann |
Veranstaltungsort: | Braunschweig, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1995-03-16 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |