Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 74 von 267
Zurück zur Trefferliste

Messung lokaler elektrischer Eigenschaften mit dem AFM: Der Leitfähigkeitskontrast

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Koautor*innen:Eckhard Schulz
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Festvortragsreihe "Fortschritte in der Rastersondenmikroskopie" anläßlich der Eremittierung von Prof. Dr. Lacmann
Jahr der Erstveröffentlichung:1995
Veranstaltung:Festvortragsreihe "Fortschritte in der Rastersondenmikroskopie" anläßlich der Eremittierung von Prof. Dr. Lacmann
Veranstaltungsort:Braunschweig, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1995-03-16
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.