Towards a consistent approach in probing nanoscale forces by spherical probe AFM
Autor*innen: | Bert Stegemann |
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Koautor*innen: | Thomas Schneider, Erich Santner |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 4th International Workshop "Scanning probe Microscopy in Life Sciences", JPK Instruments AG |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
Veranstaltung: | 4th International Workshop "Scanning probe Microscopy in Life Sciences", JPK Instruments AG |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2005-10-13 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2005-10-13 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |