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Towards a consistent approach in probing nanoscale forces by spherical probe AFM

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Metadaten
Autor*innen:Bert Stegemann
Koautor*innen:Thomas Schneider, Erich Santner
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):4th International Workshop "Scanning probe Microscopy in Life Sciences", JPK Instruments AG
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Veranstaltung:4th International Workshop "Scanning probe Microscopy in Life Sciences", JPK Instruments AG
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2005-10-13
Enddatum der Veranstaltung:2005-10-13
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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