Achieving traceability of industrial computed tomography
Autor*innen: | M. Bartscher, M. Neukamm, U. Hilpert, U. Neuschaefer-Rube, F. Härtig, K. Kniel, Karsten Ehrig, Andreas Staude, Jürgen Goebbels |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Key engineering materials |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Verlag: | Trans Tech Publ. |
Verlagsort: | Aedermannsdorf |
Jahrgang/Band: | 437 |
Erste Seite: | 79 |
Letzte Seite: | 83 |
Freie Schlagwörter: | Coordinate metrology; Industrial computed tomography (CT); Traceability |
DOI: | 10.4028/www.scientific.net/KEM.437.79 |
ISSN: | 1013-9826 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 11.03.2010 |