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THz Applications for Non-Destructive Testing

  • Up to now THz-TDS-systems aren’t considered to be nondestructive testing facilities for large scale industrial applications, despite it was proven that they provide a comprehensive set of quality parameters. A practical approach to bring THz-TDS in addition to already existing testing systems into the industrial mainstream is systematic development of future test procedures and test facilities for dielectrics. For this purpose polyeth-ylene test specimen with introduced artefacts were designed, to evaluate the detection sensitivity of Time of Flight measurements based on dielectrics. SAFT reconstructed tomograms are presented which visualize the sizes and location of artificially introduced flaws.

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Autoren/innen:Jörg Beckmann, Holger Spranger, Uwe Ewert
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):2017 Far East NDT New Technology & Application Forum (FENDT)
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.3 Radiologische Verfahren
Herausgeber (Institution):IEEE
Verlag:IEEE Conference Publication
Verlagsort:USA
Jahrgang/Band:12
Erste Seite:272
Letzte Seite:276
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Dielectric materials; Image reconstruction; THz radiation; Terahertz synthetic aperture
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Degradation von Werkstoffen und Materialien
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Zerstörungsfreie Prüfung und Spektroskopie
Veranstaltung:2017 Far East NDT New Technology & Application Forum (FENDT)
Veranstaltungsort:XI'an, China
Beginndatum der Veranstaltung:22.06.2017
Enddatum der Veranstaltung:24.06. 2017
DOI:https://doi.org/10.1109/FENDT.2017.8584511
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:28.01.2019
Referierte Publikation:Nein