THz Applications for Non-Destructive Testing
- Up to now THz-TDS-systems aren’t considered to be nondestructive testing facilities for large scale industrial applications, despite it was proven that they provide a comprehensive set of quality parameters. A practical approach to bring THz-TDS in addition to already existing testing systems into the industrial mainstream is systematic development of future test procedures and test facilities for dielectrics. For this purpose polyeth-ylene test specimen with introduced artefacts were designed, to evaluate the detection sensitivity of Time of Flight measurements based on dielectrics. SAFT reconstructed tomograms are presented which visualize the sizes and location of artificially introduced flaws.
Autor*innen: | Jörg Beckmann, Holger Spranger, Uwe Ewert |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 2017 Far East NDT New Technology & Application Forum (FENDT) |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere | |
Herausgeber (Institution): | IEEE |
Verlag: | IEEE Conference Publication |
Verlagsort: | USA |
Jahrgang/Band: | 12 |
Erste Seite: | 272 |
Letzte Seite: | 276 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Dielectric materials; Image reconstruction; THz radiation; Terahertz synthetic aperture |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Material / Degradation von Werkstoffen | |
Veranstaltung: | 2017 Far East NDT New Technology & Application Forum (FENDT) |
Veranstaltungsort: | XI'an, China |
Beginndatum der Veranstaltung: | 22.06.2017 |
Enddatum der Veranstaltung: | 24.06. 2017 |
DOI: | 10.1109/FENDT.2017.8584511 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 28.01.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |