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THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials

  • Today X-ray tomography and Ultrasound Synthetic Aperture Focusing Techniques are representative examples for defect imaging in the field of nondestructive testing. THz time domain spectroscopy (TDS) operates with short electromagnetic pulses. The sensitivity of the pulses to optical material property changes makes THz-TDS attractive for the detection of flaws in dielectric materials. Unfortunately, the X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the econstruction quality.

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Autoren/innen:Jörg Beckmann, Holger Spranger
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):IRMMW- THz-Program
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere
Herausgeber (Institution):IEEE
Verlag:IEEE
Verlagsort:Danvers, USA
Erste Seite:TD.19-1
Letzte Seite:TD.19-2
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Computed tomography; Dielectric materials; Dielectrics; Image reconstruction; Image reconstructions; Optical surface images; Reflection; THz-TDS-Saft; Terahertz spectroscopy; Terahertz time domain spectroscopy; Terahertz wave imaging; Time domain SAFT algorithm; Time measurement; Time-domain analysis; Tomography; Ultrasound synthetic aperture focusing techniques; X-ray tomography
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Veranstaltung:42nd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
Veranstaltungsort:Cancun, Mexico
Beginndatum der Veranstaltung:27.08.2017
Enddatum der Veranstaltung:01.09.2017
DOI:https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8067159
URL:http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8067159&isnumber=8066832
ISBN:978-1-5090-6048-1
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:21.09.2017
Referierte Publikation:Nein