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THz-ToF techniques for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials based on SAFT

  • The ability to penetrate dielectric materials makes T-rays attractive to reveal discontinuities in polymer and ceramic materials. Changes of travelling time (ToF) and pulse shape due to the interactions of THz pulses with the dielectric material and its inherent discontinuities can be observed. A tomogram of the object under the test can be reconstructed from time of flight diffraction (ToFD) scans if a synthetic focusing aperture (SAFT) algorithm is applied.

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  • Spranger, Beckmann - THz-ToF techniques for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials based on SAFT.pdf
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Metadaten
Autoren/innen:Holger Spranger
Koautoren/innen:Jörg Beckmann
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Terahertz synthetic aperture dielectric materials
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Veranstaltung:7th International Workshop on Terahertz Technology and Applications
Veranstaltungsort:Kaiserslautern, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:15.03.2016
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:25.05.2016
Referierte Publikation:Nein