MetadatenAutor*innen: | Erich Santner, Dirk SpaltmannORCiD |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
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Herausgeber (Institution): | Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik |
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Verlag: | VDI-Verl. |
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Verlagsort: | Düsseldorf |
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Ausgabe/Heft: | 1669 |
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Erste Seite: | 191 |
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Letzte Seite: | 200 |
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Veranstaltung: | Tagung 2003 |
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Veranstaltungsort: | Stuttgart, Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-02-12 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2003-02-13 |
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ISSN: | 0083-5560 |
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ISBN: | 3-18-091669-9 |
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Bemerkung: | Serientitel: VDI-Berichte – Series title: VDI-Berichte |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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