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Microstructural characterization of the influence of SLM scan parameters by means of X ray and neutrons sources

  • An overview of the main Non-Destructive activities conducted at BAM for the microstructural characterization of Additive Manufacturing (AM) materials will be presented. Focus is made on the study of the influence of Selective Laser Melted (SLM) scan strategies on the defect population of a Ti-6Al-4V alloy using the Analyzer Based Imaging (ABI) technique available at the BAMline (BESSY II synchrotron facility). ABI technique takes advantage of X Ray refraction at interfaces to enable the determination of porosity features (orientation, homogeneity, etc.) within large volumes, otherwise not possible to image by means X ray micro Computed Tomography. Additionally, for a SLM IN718 material, Energy Dispersive X Ray Diffraction (subsurface measurements at 100 µm depth) and neutrons diffraction (internal measurements at 3 mm depth) are combined with distortion measurements to produce a 3D description of the Residual Stress distribution throughout the entire sample.

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Autor*innen:Itziar Serrano MunozORCiD
Koautor*innen:René Laquai, Bernd R. Müller, Tatiana Mishurova, Tobias Thiede, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Energy dispersive X Ray diffraction; Neutrons diffraction; Selective laser melted materials; X-Ray refraction
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Additive Fertigung
Veranstaltung:TMS (The Minerals, Metals & Materials Society)
Veranstaltungsort:Gaithersburg, Maryland, USA
Beginndatum der Veranstaltung:18.06.2018
Enddatum der Veranstaltung:21.06.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:11.07.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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