Report on an inter-laboratory comparison - Measurement of lateral structures in the nanometre range with Secondary Ion Mass Spectrometry; Project "Quality Assurance in Nano-scale Analysis" (Abschlussbericht)
Autor*innen: | Mathias Senoner |
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Dokumenttyp: | Forschungsbericht |
Veröffentlichungsform: | Eigenverlag BAM |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
Verlag: | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung |
Verlagsort: | Berlin |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 34 |
Freie Schlagwörter: | Laterale Auflösung; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Ringversuch; SIMS; Sekundärionen-Massenspektrometrie |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Bibliotheksstandort: | He 1623 |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |