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SIMS imaging of the nanoworld: applications in science and technology

  • Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) enables surface chemical analysis of nano-scaled objects and chemical imaging of nano-scaled details of natural or artificial objects. This review presents the state of the art in nanoscale SIMS analysis. At first a short introduction into recent instrumentation for high resolution SIMS imaging and the limiting factors of lateral resolution is given. The next section covers the chemical analysis of nanoparticles. Recent applications of nanoscale imaging SIMS in geology, cosmochemistry, materials research, cellular biology, ecology and medical research are summarized and illustrated by examples.

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Metadaten
Autor*innen:Mathias Senoner, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of analytical atomic spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2012
Verlag:Royal Society of Chemistry
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:27
Ausgabe/Heft:7
Erste Seite:1050
Letzte Seite:1068
Freie Schlagwörter:Lateral resolution; Nanoparticle; Nanopartikel; Nanoscale imaging; Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)
DOI:10.1039/c2ja30015j
ISSN:0267-9477
ISSN:1364-5544
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:25.06.2012
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