SIMS imaging of the nanoworld: applications in science and technology
- Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) enables surface chemical analysis of nano-scaled objects and chemical imaging of nano-scaled details of natural or artificial objects. This review presents the state of the art in nanoscale SIMS analysis. At first a short introduction into recent instrumentation for high resolution SIMS imaging and the limiting factors of lateral resolution is given. The next section covers the chemical analysis of nanoparticles. Recent applications of nanoscale imaging SIMS in geology, cosmochemistry, materials research, cellular biology, ecology and medical research are summarized and illustrated by examples.
Autor*innen: | Mathias Senoner, Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of analytical atomic spectrometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2012 |
Verlag: | Royal Society of Chemistry |
Verlagsort: | London |
Jahrgang/Band: | 27 |
Ausgabe/Heft: | 7 |
Erste Seite: | 1050 |
Letzte Seite: | 1068 |
Freie Schlagwörter: | Lateral resolution; Nanoparticle; Nanopartikel; Nanoscale imaging; Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) |
DOI: | 10.1039/c2ja30015j |
ISSN: | 0267-9477 |
ISSN: | 1364-5544 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 25.06.2012 |