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TEM Characterization of the Interface Quality of MOVPE Grown Strained InGaAs/GaAs Heterostructures

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Autor*innen:A. Höpner, H. Seitz, I. Rechenberg, C. Bugge, Mathias ProcopORCiD, E. Scheerschmidt, A. Queisser
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Physica status solidi A
Jahr der Erstveröffentlichung:1995
Verlag:Wiley-VCH
Verlagsort:Berlin
Jahrgang/Band:150
Ausgabe/Heft:427
Erste Seite:427
Letzte Seite:437
Freie Schlagwörter:Laser; TEM
ISSN:1862-6300
ISSN:0031-8965
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:01.11.1996
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