Stefan Kowarik, L. Pithan, D. Nabok, C. Cocchi, P. Beyer, G. Duva, J. Simbrunner, J. Rawle, C. Nicklin, P. Schäfer, C. Draxl, F. Schreiber
- We present a combined experimental and theoretical study to solve the unit-cell and molecular arrangement of the tetracene thin film (TF) phase. TF phases, also known as substrate induced phases (SIP), are polymorphs that exist at interfaces and decisively impact the functionality of organic thin films, e.g., in a transistor channel, but also change the optical spectra due to the different molecular packing. As SIPs only exist in textured ultrathin films, their structure determination remains challenging compared to bulk materials. Here, we use grazing incidence Xray diffraction and atomistic simulations to extract the TF unit-cell parameters of tetracene together with the atomic positions within the unit-cell.
MetadatenAutor*innen: | Stefan KowarikORCiD, L. Pithan, D. Nabok, C. Cocchi, P. Beyer, G. Duva, J. Simbrunner, J. Rawle, C. Nicklin, P. Schäfer, C. Draxl, F. Schreiber |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of chemical physics |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
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Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
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| 8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.6 Faseroptische Sensorik |
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Herausgeber (Institution): | AIP |
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Verlag: | AIP Publishing |
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Jahrgang/Band: | 149 |
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Ausgabe/Heft: | 14 |
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Erste Seite: | 144701-1 |
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Letzte Seite: | 144701-5 |
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DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
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Freie Schlagwörter: | Molecule; Optoelectronics; Semiconductor; Tetracene; X-ray DIFFRACTION |
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Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
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DOI: | 10.1063/1.5043379 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
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Datum der Freischaltung: | 31.10.2018 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 01.11.2018 |
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