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Microstrain distributions in polycrystalline thin films measured by X-ray microdiffraction
- Microstrain distributions were acquired in functional thin films by high-resolution X-ray microdiffraction measurements, using polycrystalline CuInSe2 thin films as a model system. This technique not only provides spatial resolutions at the submicrometre scale but also allows for analysis of thin films buried within a complete solar-cell stack. The microstrain values within individual CuInSe2 grains were determined to be of the order of 10^-4. These values confirmed corresponding microstrain distribution maps obtained on the same CuInSe2 layer by electron backscatter diffraction and Raman microspectroscopy.
Autor*innen: | N. Schäfer, G. A. Chahine, A. J. Wilkinson, Thomas SchmidORCiD, T. Rissom, T. U. Schülli, D. Abou-Ras |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of Applied Crystallography |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
Veröffentlichende Institution: | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
Jahrgang/Band: | 49 |
Erste Seite: | 632 |
Letzte Seite: | 635 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Microstrain distribution; Polycrystalline thin films; Raman microscopy; X-ray microdiffraction |
DOI: | 10.1107/S1600576716003204 |
URN: | urn:nbn:de:kobv:b43-366592 |
ISSN: | 1600-5767 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
Lizenz (Deutsch): | Creative Commons - Namensnennung-Weitergabe unter gleichen Bedingungen |
Datum der Freischaltung: | 27.06.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 27.06.2016 |
Schriftenreihen ohne Nummerierung: | Wissenschaftliche Artikel der BAM |